Тестер оптический Yokogawa AQ1100 предназначен для измерения потерь в оптоволоконных линиях связи. Для производства тестера AQ1100 используется корпус того же размера, что и для рефлектометра Yokogawa AQ1200. Поэтому тестер имеет высокую степень защиты для работы в полевых условиях и большой ЖК-экран для удобства пользователя.
Тестер может быть укомплектован одним из трех видов измерителей мощности: стандартным, высокой мощности и PON-измерителем; источником видимого излучения; видеощупом для проверки чистоты и качества разъемов.
Два тестера AQ1100 могут работать в паре как ведомый и ведущий. Это очень удобно при большом количестве измерений, особенно в случае использования функции тестирования многоволоконного кабеля.
Тестер оптический AQ1100 поставляется в семи модификациях:
— AQ1100A-HR-F-SPM-UFC/SB;
— AQ1100A-HR-F-HPM-UFC/SB;
— AQ1100A-HR-F-PPM-UFC/SB;
— AQ1100В-HR-F-SPM-UFC/SB;
— AQ1100B-HR-F-HPM-UFC/SB;
— AQ1100D-HR-F-SPM-UFC/SB;
— AQ1100D-HR-F-HPM-UFC/SB.
| Параметр | AQ1100A | AQ1100B | AQ1100D | |
| Источник излучения | Длины волн | 1310/1550 ± 25 нм | 1310/1550/1625 ± 25 нм | SM: 1310/1550 ± 25 нм GI: 850/1300 ± 30 нм |
| Тип источника излучения | Лазерный диод | SM: лазерный диод GI: светодиод | ||
| Спектральная ширина излучения лазерного диода (нм) | < 5/ < 10 | < 5/ < 10/ < 10 | < 5/< 10 | |
| Спектральная ширина излучения светодиода (нм) (по полувысоте) | — | — | Типичное 40/140 | |
| Уровень выходной оптической мощности | — 3 ± 1 дБм | SM: — 3 ± 1 дБм GI: 20 ± 1 дБм | ||
| Стабильность уровня | ± 0,05 дБ | SM: ± 0,05 дБ GI: ± 0.1 дБ | ||
| Тип модуляции | Непрерывное излучение CW, модулированное излучение CHOP (270 Гц/1 кГц/2 кГц) | |||
| Применимое волокно | SM (ITU-T G.652) | SM (ITU-T G.652); GI (50/125 мкм) | ||
| Оптический разъем | FC (опционально SC, LC, ST, SC/APC) | FC (опционально SC, LC, ST) | ||
| Лазерная безопасность | Класс 1 | |||
| Встраиваемый измеритель оптической мощности | Модель | Стандартный (SPM) | Высокой мощности (HPM) | PON (PPM, только AQ1100A) |
| Выбор длины волны | Простой режим: 850/1300/1310/1490/1550/1625/1650 нм Детальный режим: 850 … 1650 нм, шаг 1 нм CWDM-режим: 1270 … 1610 нм, шаг 20 нм | 1310/1490/1550 нм (1490 и 1550 нм могут измеряться отдельно) | ||
| Диапазон мощности | + 10 … — 70 дБм (непрерывное излучение) + 7 … — 70 дБм (модулированное) | + 27 … — 50 дБм (непрерывное излучение) + 24 -50 дБм (модулированное) | + 27 … — 50 дБм: 1550 нм + 10 … — 70 дБм: 1310/1490 нм | |
| Уровень шумов | 0.5 нВт (-63 дБм, 1310 нм) | 50 нВт (-43 дБм, 1310 нм) | 0.5 нВт (-63 дБм, 1310 нм); 50 нВт (-43 дБм, 1550 нм) | |
| Точность при стандартных условиях | ± 5% | ± 5% | ± 0.5 дБ (10%) | |
| Разрешение считывания | 0.01 | |||
| Единицы измерения | Абсолютные: дБм, мВт, мкВт, нВт; относительные: дБ | |||
| Тип модуляции | Непрерывное излучение CW, импульсное излучение CHOP (270 Гц, 1кГц, 2 кГц) | Непрерывное излучение CW | ||
| Функция усреднения | Усреднение по 1, 10, 50 и 100 измерениям | |||
| Функция измерений с интервалом | Интервалы измерений: 500 мс, 1 с, 2 с, 10 с Подсчет измерений: 10 до 1000 | |||
| Источник видимого излучения (VLS) | Оптический разъем | Универсальный 2.5 мм | ||
| Длина волны и уровень оптической мощности | 650 нм ± 20 нм, – 3 дБм и больше | |||
| Тип модуляции | 2кГц | |||
| Класс лазера | Класс 3R | |||
| LAN интерфейс (LAN) | 10BASE-T/100BASE-TX RJ коннектор | Ping тест, удаленное управление с компьютера | ||
| № | Наименование | Количество |
| 1 | Тестер оптический AQ1100 в соответствующей модификации | 1 |
| 2 | Универсальный оптический адаптер FC (сменный) | 1 |
| 3 | Ремень для переноски рефлектометра | 1 |
| 4 | Боковой ремешок-ручка | 1 |
| 5 | Аккумуляторная батарея 739882 | 1 |
| 6 | Сетевой адаптер с сетевым шнуром 739871-F | 1 |
| 7 | USB flash-карта памяти 4 ГБ | 1 |
| 8 | Мягкий кейс для переноски | 1 |
| 9 | Руководство пользователя на английском языке (CD) | 1 |
| 10 | Руководство пользователя на русском языке | 1 |
